Свидетельство о государственной регистрации топологии интегральной микросхемы №2008630025

24.03.2008

Тестовый элемент для контроля качества формирования магниторезистивного слоя и его диэлектрической изоляции в магниточувствительных схемах

Авторы: Амеличев Владимир Викторович, Галушков Александр Иванович, Гамарц Илья Андреевич.