Анализатор микросистем MSA-500


MSA-500


Фирма-изготовитель

 

Polyteс

 

Страна

 

Германия

 

Год выпуска

 

2011

 

Назначение оборудования

 

Измерение линейных размеров и амплитудно-частотных характеристик   микромеханических элементов в МЭМС и НЭМС


Технические характеристики анализатора микросистем:

Боковые измерения вибрации

Измеряемая величина

мгновенная скорость и виброперемещение

Источник света

светодиод с большим ресурсом, длина волны 525 нм, длина когерентности ~8 мкм;

Частотный диапазон вибрации

0 - 24 МГц

Разрешение по перемещению, не хуже

<0.1 пм/√Гц

Макс. виброскорость (пик), не менее

±10 м/с

Разрешение по скорости, не хуже

<1 мкм/с

Измерения вибрации в плоскости объекта

Частотный диапазон вибрации

1 Гц - 1 МГц

Разрешение по смещению, не хуже

1нм

Разрешение по времени, не хуже

100 нс

Макс. виброскорость (пик)

> 0,1 - 10 м/с (в зависимости от увеличения)

Измерение топографии

Разрешение, не хуже

35-350 пм в зависимости от типа поверхности

Повторяемость, не хуже

0,07 %

Точность, не хуже

0,35 %

Динамический диапазон по вертикали, не менее

250 мкм




Дополнительные опции:

 

  • интерфейсный модуль для соединения сканирующей головки с системой управления;
  • виброизолированная платформа на пьезокомпенсаторах;
  • система сбора данных и ПО для обработки полученных данных вибрации и топографии;
  • виброизолированный стенд для установки микроанализатора;
  • возможность делать дифференциальные измерения (дифференциальный лазерный интерферометр с оптоволоконным кабелем);
  • встроенный одноканальный генератор сигналов;
  • системный кабинет;
  • цифровой демодулятор сигнала скорости;
  • цифровой декодер перемещений;
  • объективы (измерение динамики): 2; 5; 10; 20; 50;
  • интерференционные объективы с увеличением: 2,5; 4; 10; 20; 50;
  • возможность сканирования с частотным разрешением до 204,800 спектральных линий;
  • возможность записи временных и частотных спектров;
  • поддержка съемки видео объекта измерения;
  • возможность загрузки геометрии образца для определения точек сканирования;
  • возможность измерения геометрии образца;
  • возможность использования обработки полученных данных на внешнем компьютере;