Перечень услуг, оказываемых ЦКП НПК «Технологический центр»
- Измерение электрических параметров и контроль функционирования полузаказных микросхем
- Измерение электрических параметров и контроль функционирования полузаказных микросхем при крайних значениях температур (-80 С;+120 С).
- Измерение электрофизических параметров МДП-структур на основе измерения высокочастотных (ВЧ) вольт-фарадных характеристик (ВФХ) с помощью ртутного зонда (Параметры: напряжение плоских зон, ёмкость плоских зон, ёмкость диэлектрика, пороговое напряжение, эффективный заряд в диэлектрике, термополевая стабильность).
- Испытание микросхем на воздействие повышенной и пониженной температуры среды (термоциклирование).
- Испытания микросхем на воздействие линейного ускорения до 30000 g
- Испытание микросхем на устойчивость к электрическим и климатическим нагрузкам (электротермотренировка).
- Измерение электрических параметров тестовых элементов микросхем в составе пластины
- Измерение магнитных характеристик магниторезистивных структур и магнитнострикционных материалов
- Измерение амплитудно-частотных характеристик микромеханических элементов в МЭМС и НЭМС
- Измерение линейных размеров микромеханических элементов в МЭМС и НЭМС
- Исследования электрофизических и электрохимических свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии
- Контроль параметров полупроводниковых пластин с помощью ИК Фурье-спектрометра
- Измерение характеристик пленок c помощью автоматической эллипсометрической измерительной системы SENDURO
- Испытание микросхем на воздействие повышенной влажности воздуха (длительное и ускоренное)
- Испытание микросхем на вибропрочность
- Испытание микросхем на воздействие одиночных ударов
